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离子污染测试仪OMEGA SMD650
.鉴定存在于裸板、组装后的印刷电路板及其它电子部件的离子污染。 .提供了一种精确且可重复的现场测定清洁度的方法。 .提供了直接的过程控制结果,无需外部实验室测试。 .在涂敷及灌封应用之前验证表面清洁度。 .遵从目前工业的技术规范如ANSI/J-STD-001和IPC-TM-650以及废除的军用标准如MIL-STD-2000A。 .自包含式系统 .简单,界面友好的操作特性,包含计算机和显示器。 .Stair-step design allows for easier loading of parts intotest cell .按照IPC-TM-650加热测试溶液改善污染物的溶解性。 .喷射嘴可以增加污染物的去除。 .自动处理识别测试的结束。 软件特征 .专用的基于Windows的软件及触摸屏。 .无限的测试结果曲线储存及定制的名称。 .测试时间与污染量的对应图表。 .分类、过滤机回顾历史测试结果。 .全尺寸的PDF格式测试报告。 .密码保护使用者账号 .可选的 LAN 连接 .方便的USB接口用于外围设备如键盘、鼠标、打印机
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